SIGMA西格玛 Custom-made_Etalon 干涉器
◦可以根据用途制造4种F-P标准具。
◦只有一个反射面的情况下为全反射,在第二个反射面完全平行时反射面之间的光线密度会变高,从第二面泄露的光线光量会一直上升到射入第一面的光线光量水平。另一方面,第一面泄露的光与第一面的反射光相抵消,第一面的反射光量会减小。因此,可以得到特定波长的高透过率。
◦请在下列问询单中填入要求事项。我们会与您联系确认技术要求。
更多信息| 目录编号 | W3122 |
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| RoHS | 否 |
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| CE | 否 |
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| 资料下载 |
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| 信息 | ▶欢迎使用特殊规格产品客户问询单咨询。(WEB参照/カタログコードW6004) |
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| 注意 | ▶如果入射角度不是正确的0°,透过波长可能会产生偏差,甚至可能不会透过光线。 ▶对干涉器的锐度或透过率的特性有特殊要求时,请事先联系。 ▶根据情况不同,制造干涉器有时需要很多时间。请向营业部门确认。 |
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| 基板面型精度 | <λ/20 (λ=632.8nm) |
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| 入射角度 | 0° |
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